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贵阳光谱仪|光谱仪用途|欣晟泰：

GB/T 4336-2002 碳素钢和中低合金钢火花源原子发射光谱分析方法(常规法)

GB/T 11170-2008 不锈钢多元素含量的测定火花放电原子发射光谱法(常规法)

GB/T 24234-2009 铸铁多元素的测定火花放电原子发射光谱法

GB/T 26042-2010 锌及锌合金分析方法光电发射光谱法

GB/T 7999-2007 铝及铝合金光电直读发射光谱分析方法

GB/T 13748.21-2009 镁及镁合金化学分析方法 第21部分：光电直读原子发射光谱分析 方法测定元素含量

GB/T 11066.7-2009 金化学分析方法银、铜、铁、铅、锑、铋、钯 、镁、锡、镍、锰和 铬含量的测定火花原子发射光谱法

YST 482-2005 铜及铜合金分析方法光电发射光谱法

GBT 4103.16-2009 铅及铅合金化学分析方法第16部分:铜、银、铋、锑、锡、锌含 量的测定光电直读发射光谱法

CSM 01010105-2006 火花源发射光谱法测定低合金钢测量结果不确定度评定规范

SN/T 2083-2008 黄铜分析方法火花原子发射光谱法

SN/T 2489-2010 生铁中铬、锰、磷、硅的测定 光电发射光谱法

YS/T 559-2009 钨的发射光谱分析方法

SN/T 2785-2011 锌及锌合金光电发射光谱分析法

SN/T2786-2011 镁及镁合金光电发射光谱分析法

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光谱仪：采用光谱仪进行光谱分析中样品只需要打磨掉表面氧化皮，固体样品即可放在样品台上激发，免去了化学分析钻取试样的麻烦。对于铝及铜、锌等有色金属样品而言，贵阳光谱仪，可用小车床车去表面氧化皮即可。

化学法：化学法取样是原来的检测方法中重要的环节，取样环节很容易因为取样人的波动而产生微量变化，从而影响测量结果，另外取样时间是整个测试中长的过程。

二、出结果的时间  光谱仪：从样品激发到计算机报出所有元素分析含量只需数秒至数十秒，速度非常快，有利于缩短生产时间，降低成本。特别是对那些容易烧损的元素，更便于控制其后的成份。

化学法：在取样工作完成的情况下，每几分钟出一个元素的检测结果。

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X射线荧光光谱仪原理图

X射线荧光光谱分析(X Ray Fluorescence)仪的原理主要基于：原子受到X射线的作用，其内层电子被激发，形成空穴，原子处于不稳定的激发态。为了回到稳态，光谱仪保养，原子的外层电子会跃迁回内层，多余的能量以荧光形式释放出来，被侦测器检测到，通过此来做分析。通常，光谱仪用途，可以将X射线荧光光谱分析仪可分为波长色散性和能量色散性。共元素干扰在日常的分析工作中，XRF这种分析方法经常会出现共元素干扰。这种共元素干扰的问题主要起源于X荧光射线侦测器对于X荧光射线的分辨率的限制所致，只要是XRF都会遭遇到相同的问题。共元素干扰主要分为三类：两相近共元素干扰、加乘波峰、逃离波峰。

（1）两相近共元素干扰：由于两元素在能谱图上的位置相近，以至于侦测器无法分别出两者之间的差距。如铅(La10.55Kv)、(Ka10.54Kv)。

（2）加乘波峰：由于某元素的浓度异常高，此时发出大量X荧光射线，而侦测器无法及时处理，将在能谱两倍的位置上出现一根波峰。如大量的铁(Ka6.4Kv)，会在能谱12.8Kv处出一根小波峰。造成误判。但此种情形极为少见。

（3）逃离波峰：由于某元素的浓度异常高，此时发出大量X荧光射线，而侦测器无法及时处理，将在此元素的能谱位置前一个硅Ka的能谱距离多出一根小波峰而造成误判，但情形极少出现。如锡(Ka25.27K)-硅(Ka1.74Kv)=23.53Kv≈镉(Ka23.17 Kv)。

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